* t, J) t, T' D/ }* O3 rAl的晶格中渗入了其他的原子。另外?没有出现新的衍射峰?说明是铝的无序固溶体?保 ) t6 N' E: R( C# T/ W4 H. M" l& {, F7 _0 B
持着纯铝的晶体结构。 4 \2 h6 Y- ^" g6 z7 z
" o$ a+ W* g% h o, Y; o# ?: K% \
[& e: j1 \" G
; k8 e& o4 K0 ~3 E$ A6 K, A
钴酸锂的标准卡片有哪几种?而许多厂家用的是16-427标准卡片?没有考虑?009?这个0 h; p, F8 q: K+ {% B4 q$ B8 w7 k9 @* N
# L7 e. X3 }' j. X
衍射峰?为什么不用75-0532标准卡片呢? ( ?) z4 ?$ O/ n
4 i, C6 \3 q; E2 i. M 16-427是通过实验得出的?而75-0532是利用ICSD结构数据库中的结构数据计算得出的 9 M6 a* v6 L: C' o7 H * S4 k, J2 J; y/ R 做钴酸锂实验时?出现的峰和75-0532一样?而和16-427是不是只差?009?衍射峰呢?如" p9 ~! N' J% p5 l' Y* d' O
% @5 Q3 U, _) t, o+ g% i# W
果是这样?那么就是16-427漏掉了这个峰?或者当时实验者收集数据时的角度不够高?没) j, `7 T/ N% f' L) @& s' c
9 s l! b+ k$ p有达到这个峰的位置?这种情况是常有的 ( T4 k3 W# x0 |4 n1 e. W( P0 i; A
" E% [0 u* U, }/ D: Q- e' Y & h6 V! T( N3 F0 P , \) a$ q5 p+ m4 W 做钴酸锂XRD衍射实验时?在X衍射仪上做出的衍射图片,第一个衍射峰特别高,其他的衍. a) j' A6 h. _" j
7 y6 M/ e! [0 A+ E1 p' ~9 x. L
射峰特别低,不成比例,是仪器本身的原因,还是发生了择优取向,请各位高手指点。 , e( `7 V, [: y, V% t
0 g: I% D5 Y! p; x/ K5 G: |
不知你是用钴酸锂粉末做的实验?还是多晶膜等?如果是粉末?那可能就是择优取向了 0 ~! L& R1 ^7 k# P p& ^7 v( p7 D8 H' L
) q7 W9 v7 i$ r. M/ r
; L: X) }) _2 ]5 Y2 V" r' u% }/ \: y* Q( L1 {6 C. y! K1 T9 _
% ~9 U9 j3 d8 `8 l, t: b* |
原子各向同性?异性?温度因子对结构影响大吗? : A& _4 L6 s1 S( n! t# q3 h! U4 E2 U
温度因子就是反映原子在平衡位置附近振动情况的一个因子?主要是对强度有影响?那当/ n, ]+ M h u i; {7 r2 {
8 P K9 Z1 N2 y* J5 U5 J( s4 d
然就对结构有影响了。 - y- x4 G0 L7 j! M$ F' i8 Q& |- K' M6 }, L3 E' U
9 `5 |/ N/ p/ @2 _
5 q& p+ n3 q* Y3 L- n) I
晶体的各向异性温度因子是如何定义的? 8 m3 Q' [" E+ i' E+ _8 X ~9 S4 m8 ~' w3 m+ b) n 晶体中的原子普遍存在热运动?这种运动在绝对零度时也未必停止。通常所谓的原子坐标2 b$ \$ I2 v# ]2 w
% E) [; H* f5 O T# X+ @* l" G! |是指它们在不断振动中的平衡位置。随着温度的升高?其振动的振幅增大。这种振动的存在 4 V* a0 ~3 I, Y3 a0 J3 l + Z. f2 U( X3 ]9 {$ N增大了原子散射波的位相差?影响了原子的散射能力?即衍射强度。在晶体中?特别是对称3 X% V6 E6 C* p( L" y# w
1 I3 I f! C( b/ A: X
性低的晶体?原子各个方向的环境并不相同?因此严格的说不同方向的振幅是不等的?由此 7 R( D4 Q) p; o; t$ r4 c0 v# _ ( G( J8 D+ v: x3 s' E引入了各向异性温度因子。 8 L" [9 V$ j% |3 t, f ! O5 S6 r( ~: }& I, r. W0 g# }8 b/ n! _3 k/ S. H& y
( e0 E8 l. q2 G/ Z/ b: d5 M1 H
在进行Rietveld结构精修时?是否该对温度因子进行约束?如何约束以及约束范围? : j. D# g" n$ {0 t
/ v0 M. v- w- O1 i$ G' l 由于温度因子是随着衍射角的增加而对强度的影响增大?所以?如果要精修温度因子?就9 B- K, G% K9 n. y
# Q8 N7 R6 `# w0 A- z. q8 p一定要收集高角度的数据。 # F c; X1 c' m: {2 X
# O# t% D, H" v3 a * O/ S! C+ W/ Y* @" \* q9 r ) t7 l: V4 `3 H7 I. x 如何由粉末衍射数据通过FullProf提取结构因子? 1 a* Q' E* V! h f2 T
+ G6 F, D( O% D 首先需要一个dat文件?第一行?2theta起点?步长?终点?下面是每个点的强度。 2 ^( n2 w' l, |" Z4 |2 s% J' Y8 V$ m4 X& Y0 i. q6 t2 z7 C2 J5 \
下面需要编写pcr文件?先得到六个晶胞参数?零点?还要得到18-30个背景点?才能开始 8 a) x+ q" @# x4 R1 V4 ~* Q1 ?2 d: q5 \5 v R
编写?其他参数设置可以看说明书。如果你以前用Fullprof精修过结构,则只需修改如下参数?$ x2 m" u5 u5 G3 Y
) U8 j0 N0 j2 j) o: B* XLine 11-2 的N(number of atoms in asymmetric unit)参数置为0,相应的下面与原子有关的参数1 a% ^+ c9 d' G5 d
7 z/ N8 U/ {# j3 r就不要了?Line 11-2 的JBT参数(2,-2,3或-3,具体看说明)。至于要输出什么样格式的结构因3 I, u7 Z$ x/ P
( W1 q& b% `8 j* G- W2 L9 ~: G6 n子数据文件,可以通过LINE 3 的JFOU参数来控制。 0 ]+ x% W, Z' B5 `4 x/ v1 ~ # X' u, S; L! G6 `& f8 ^, i 7 i5 l2 {" K% x8 R: n% k' h 5 d! y( L7 B; y& G. N Fullprof精修时?Biso的值给如何设定?是否有个大概的取值范围? ; s( W% }) S6 a; K 7 b* a# f" z- q3 ]2 N" n" H2 @, W Biso是温度因子?occu是占有率。从我拟合来看?Biso与原子的位置有关系。温度因子是# d& |5 r% x: l7 W: } k, \
4 x A0 q5 I7 v" M- j3 A
反映原子或离子偏离平衡位置的程度?因为晶胞中各原子都要做热振动的。对于立方晶系? " N2 ^5 N& Y2 a1 ~ 9 ?4 @/ N- y: n* g各向同性?只修各向同性温度因子就可以了。温度因子和占有率都是影响强度的参数?所以) N7 n6 c. w7 b
t% I! ?/ s0 c/ ^8 E7 d之间有一定的相关性。而且?温度因子对高角度峰的强度影响比较大?所以?如果要精修温, T- o1 W3 P ^, }, r, ?$ J& k, e
( x: I! ?$ j$ D4 ~ ]5 I2 v& N0 D
度因子?最好收到高角度的数据 。 * @/ ^) T9 o4 f / D7 V- _% T1 d. _7 e 7 H: k8 l' U \' m! {: t# l, @/ e# `
Fullprof精修中的scale的初值一般是怎么确定的? . u9 ?/ @3 O- s7 S$ a# n( d , Y% g. J, I; v8 T+ { 比例因子scale是指理论计算数据与实验数据之间的比值?一般随便给就可以?不会影响精 * G, D% I* ^. V. r* u6 p* N 0 e5 B0 g+ m1 g. Q修的。只要你的初始模型正确?几轮就可以修到比较合理的值。 + @9 q( Q. w$ J& G+ U% K+ x 0 x! |9 u% x7 |: ^+ x+ r- S + Q; a! k3 R1 o( o3 o! W: F v0 f3 L! ?0 f4 H* [+ `# k
我最近才接触到Rietveld精修?使用的软件是Fullprof 。在编写pcr文件的时候碰到一些问题?比如?ATZ跟OCC这两个参数是怎么算出来的。我查了一些资料?计算的公式是 % U: W+ o- m9 y9 F8 p $ a4 {0 U; j7 L j有了?但是具体的那些参数的值是怎么算的就不清楚了?还请各位多多指教? - c2 w0 S5 [# c4 b# V7 }+ v6 I" f" p
AZT = Z.Mw.f^2/t $ W; B. ?- p. l2 z/ Q( } j4 C9 L
6 _" B! } k1 s P K Occ= chemical occupancy x sitemultiplicity (can be normalized to the multiplicityof the general ) D1 C, |3 M6 @' [( m0 q' w3 d
& n y7 l5 P; k5 [% vposition of the group). F: Y$ S$ P f( C; A: q 9 f2 {$ @9 V! S. P# W, P 请问?1. Z,f,t,该怎么取值? . ?/ p8 u: M. i/ Z3 L5 N, t! U1 `4 [9 a+ E# Q$ [
2. 什么是general position of the group,从哪里可以获得这个数据 4 r3 P0 u8 E5 p
- g, t( a" H& C3 e0 l$ A7 b" K4 E
答? % A4 O2 K C: e% K9 l
0 m- O0 g6 j2 [7 q% Q
1. AZT = Z*Mw*f^2/t . @/ z: x6 i4 b4 y+ y
! F, R( _# Q+ K. ]5 I" t h/ E( D
(useful to calculate the weight percentage of the phase) ' d5 p1 T9 a2 N+ m4 Q o& O) n6 l) ? / b+ R+ N( k. h4 g) i Z: Number of formula units per cell 9 Y/ J$ x7 F& f 9 _ {% \8 j# t# \5 w Mw:molecular wheight ' v% ^0 @: `6 F; P6 v6 G" ^7 d# z
* X5 D9 u5 o4 e& a
f: Used to transform the site multiplicities to their true values. For a stoichiometric phase - }/ N3 r% j- A& }4 Z# a; O! d+ X
f=1 if these multiplicities are calculated by dividing the Wyckoff multiplicity m of the site by the 1 z" [1 v6 }( v+ T8 Q+ T( v
% ~9 g( d& ?$ Jgeneral multiplicity M. Otherwise f=Occ.M/m, where Occ. is occupation number. 4 @+ r- [- U* S, o# h
; C* Z' f0 Z( H
t: Is the Brindley coefficient that accounts for microabsorption effects. It is required for , I- ^0 s% Y1 R ` 9 X8 f0 S" s! ^2 l/ C! fquantitative phase analysis only. When phases have like absorption (in most neutron uses), this ( [2 v: F' F6 V$ f( {" |# S
+ D, p) N/ [7 H4 _- _' J4 K
factor is nearly 1. If IMORE=1 the Brindley-coeff is directly read in the next line (in such case % G5 g- H0 {3 M3 x+ n k1 ?, r7 {; `( x) Y4 C' D
ATZ=Z.Mw.f^2). 6 |+ A! w8 G) s) V; f+ V
1 A* c5 H2 g/ a4 B. f4 K 这里说明一下?ATZ的值只有在做定量分析的时候有用?如果不做定量分析?只做结构精9 g, |; f4 R, x/ H. a; a' N9 Y% I
( f& m ~6 h% A4 p# G修?则可以随便给一个值即可。 ! X5 V# e# e* P5 E8 y
( p; ?: L$ i. g) N7 K
2. general position of the group就是晶体学国际表中某个空间群的一般等效点系数?可以从6 C' g' f# _6 p- Y# A
/ {' `/ P U _# {3 f- J晶体学国际表查得?International Tables for Crystallography, Volume A: Space Group Symmetry ' ~2 t4 v6 j+ }3 C. ^
3 \0 g1 S! @, t) y2 K' X 衍射仪获得的衍射峰形?精确地说是衍射线的剖面?diffraction line profile?是不对称的?& a3 H8 W+ r) ~: x1 T2 @: b
: V P. M7 j: _1 p! F
尤其是在低角度区?2θ < 30°?表现更为明显。 ! w; \1 Q6 |/ h1 t
2 i8 N8 x4 ?* E+ `+ x, j7 J# B2 F 峰型不对称是由多方面的因素造成的?主要是衍射仪光路的几何因素、仪器的调整状况以8 \3 N: R7 P. \, i9 U8 K' Q5 C8 c
9 i9 k( g; L y) a$ J及样品的吸收性质等。 ^4 m4 \6 f6 h* o5 K) r2 E XRD分析常见问题整合(免费)3 u/ d( y% g. U6 A
/ Y% V4 k/ A% ~* uxingzhu10755? 6 K1 ]# I) h [2 ] 2 p# P( r+ c. ^' V深有感触?感觉现在用的软件分析进行科学探讨误差太大了 . S* P' ^7 S% Y E! [2 S! l
4 i$ t& d4 L( b- o) o
% J. o3 D1 {9 O8 q1 d; I$ S
4 A# [, c# `7 y5 t3 `* e# d
Punkx? ) t% _! H/ \% f* d# E , ^( F- m; a! I0 x9 L5 G一般用xrd测量晶粒尺寸小于100纳米?若是大于100nm的晶粒尺寸怎么计算?根# b; E# P8 c9 v" I( ~
8 u0 d: |; S! g4 e# p: `9 H
据XRD数据。 : A6 s4 i0 B. r* m) \( V+ ? , X6 A/ @6 t; `& k# f7 r+ S. g) U } 1 r" `6 U) ~1 d% r, e: h 5 b1 o8 a+ N+ b f- ^Liangzaili? 3 Y8 u. I, k0 J0 V ( i: R! H3 y3 D8 z3 ?2 Yhighscore不是更好吗? 1 x7 I& V0 X3 x. Q$ v" {; _
5 _" i! O" m7 s$ q/ e1 ` L' K$ R( O7 H h0 h% o
$ p" I* q' }- K0 Q- n" g+ z
Wustliang? ' B \5 A& l; Y8 C, s. [/ Q9 D2 a6 q6 Q
我是做粉末衍射样品的?在这里只就粉末衍射说一点看法。pcpdfwin的功能比较单 0 p' C* g) b/ ^6 S! P! _$ M5 v3 t/ v& M# ^2 T
一?如果想做的精细就要求从一开始样品的制备与众不同。 4 J# c! n$ s/ Q$ L" j, ]0 A- s; y3 R
首先粉末衍射要求样品的粒度要在330-450目?当然理想状态是1um?但在实际上 3 S% ^; R; y' M, c% ]1 N& q9 ?/ `$ x- o; W
很难做到?即使研磨到1um了?晶格也破坏的差不多了。 ! ^( K: P% f; |
1 U( o8 A) L2 Z 其次调整衍射仪?一般放个多晶Si片就可以了?检查仪器的状态。当然在实际测 8 S" _. E! p/ S3 w/ D) B' |2 |; P. H! Y' X
量的时候最好是在样品里加入内标相?这样很多影响因素就不用一一校正了。 + p# o, z, b. ?$ v8 I+ v, \/ R
$ V5 J$ r+ S6 H+ s. u 扫描的步径不是越小越好?一般0.01-0.005也就可以了。因为做结构精修时?要 9 d* }3 [, E" K" E, b' P) R5 D! R4 |8 y0 ]& r# s- i7 d: }$ ^" F
求步径为最小FWHM的1/10也就足够了。最强计数要在10000-20000之间。 7 s) q$ g& q/ x1 _3 W8 G) |5 @" k3 w9 E9 s* Q7 \ t# K( O
3 M2 z) M$ u$ ?# d$ ?7 i ' k' z) S3 ]5 \- D7 P) W; W, D$ U问题三?很少的粉末样品怎么做粉末XRD % `6 O& f+ u/ i, q4 a/ y7 L. r- o% Q# z' G' \8 P
Iceray ! H+ G; Y) S! K" |
1 |! n; I$ H+ L5 b4 B! s
粉末样品?苦于量奇少?怎么做粉末XRD?我试过在玻片上沉积一层样品的方法。7 V2 f% @) M, j/ U0 o) h) V$ u
# o# g) I& d8 r. O# X+ [ |2 x
但出来的是玻璃的散射?根本没峰。在这个帖“求助?用XRD测织构?样品如何制备呢?4 ~ K" N: N+ {0 `
2 w# ~, ~( {% D% ?$ q4 E7 k5 x作者: gqken 发布日期: 2006-6-23”上看过 有说用样品分散到乙醇中?滴到上面做( S& |5 B) w7 { p/ e' t
* i* X& ]9 f6 s4 S6 ^- J& eNoontgc? & g: t {7 v/ f! k& K
+ d! M. l! U8 p; [4 ~4 v如果是简单看一下,有没有掺杂进去,把哪个 0.05 的样品做一下 xrd, 看有没有掺 8 a3 g8 Q- _) V3 z; o9 d5 S/ ^& D3 |, X1 v, I
杂物质的峰,如果没有,就可能掺杂进去了,如果有掺杂物质的峰出现,有两种情况: % n6 T( M7 G) U0 F; b F! D5 l$ h, ` Y. b) F
1是没有掺杂进去, ! Z/ \: H" s5 \. j) K% Z2 G
# D- m Y7 D1 H$ ~" _ 2 是掺进去少量. 4 L4 e/ U' z4 S8 T. A, n
" i6 D( m3 o. Z) Q y 如果第二种情况出现,这时候可以对第二种情况进行详细的分析.再做几个样品,比 + |7 L9 ^0 D) |: M, O ; \; K% S, j! p Z* @如掺杂量分别为:0.01%,0.025%,0.05%,0.01%等,分别去做xrd,如果在0.05%时出现了杂7 @7 c$ ^5 Q( L
- ]! s- K5 }6 ~- Z; M+ N" C% S质峰,也就是掺杂物质的峰,说明掺杂物质在被掺杂物质中的溶解度在0.05%左右. + |4 F- v8 G3 _% W 6 |& @" d& l! D 小木虫荣誉出品 ' R# Y" D% W: p
) m$ s! h5 @2 F; F, o1 H6 v
12问题五?XRD拆峰问题如何解决 ; ]: C9 D& r6 b4 f! F ; i) d5 H: ^$ `! O; z3 v; Aliuds72? $ u0 x5 b/ n, A6 g
" p8 ]" ?1 Y! W% @6 uXRD分析时候主要看哪几个指标?我用软件匹配是自己要的物质。可是查到的资料 , n3 `" c) i1 X. `2 b2 @/ Y; Z% u
是 h k l 和对应 d i 的关系。而软件分析出来的是 2Theta 和 d i的关系?写文章 # A1 [ X0 ~: V% ?, T. n3 e0 d% D M# z) U6 @$ b& M
的时候怎么说啊?他们之间存在什么关系啊? % D4 ]4 k8 ?# O( z/ T( v+ I 7 i5 r! d5 f3 ]0 l 也就是2-Theta 和 h k l 的关系 是什么? ; [$ u2 t: R. L/ q3 m1 f" ?! c! g6 \2 H( z
2 v* D% _2 z. j9 q0 s